UNIK4470 – Karakteriseringsteknikker for halvledermaterialer, mikro- og nanostrukturer
Beskrivelse av emnet
Kort om emnet
Emnet er praktisk rettet mot karakterisering av materialer/komponenter/mikro- og nanostrukturer. Det omfatter teori og praksis av HMS, renromsteknikk, fotolitografi, vakuumteknologi, scanning electron microscopy (SEM), energy-dispersive x-ray spectroscopy (EDX), optisk mikroskopi. I tillegg vil man velge noen av følgende tema: fotoluminesens (PL), molekylstråleepitaksi groing (MBE) og atomærkraftmikroskopi (AFM). Karakteriseringen vil gjøres på prøver fra studentens masteroppgave der mulig.
Hva lærer du?
Etter å ha fullført UNIK4470 har du inngående kunnskap om:
- HMS og rensromsteknikk – håndtering av kjemikalier, laser. Bruk av sikkerhetsutstyr.
- Fotolitografi. Prosessering av forholdsvis enkle fotoresistmønster.
- SEM – teoretisk forståelse av strålegang fra elektron emitter til prøve, aberrasjoner, optimalisering. Bruk av SEM inkl. sekundær og backscatter detektorer.
- EDX teori, målinger og analyse.
- Vakuumteknologi, teori for valg av komponenter
- Bruk av lysmikroskop
Avhengig av din studieretning vil du også ha kunnskap om en av følgende:
- AFM – teori og praksis
- PL målinger i IR bølgelengdeområdet
- MBE groing av HgCdTe tynne filmer
Opptak og adgangsregulering
Studenter må hvert semester søke og få plass på undervisningen og melde seg til eksamen i Studentweb.
Studenter tatt opp til andre masterprogrammer kan, etter søknad, få adgang til emnet hvis dette er klarert med eget program.
Dersom du ikke allerede har studieplass ved UiO, kan du søke om opptak til våre studieprogrammer, eller søke om å bli enkeltemnestudent.
Forutsetter tilgang til lab for praktisk arbeid.
Forkunnskaper
Anbefalte forkunnskaper
Emnet bygger på kunnskaper tilsvarende en bachelorgrad innen fysikk/kjemi/nanobiologi/nanoteknologi/materialvitenskap.
Undervisning
Forelesninger på UNIK. Praktisk arbeid ved institusjonen hvor studenten gjør sin masteroppgave.
Eksamen
Praktisk eksamen hvor studenten skal måle og analysere prøver og tolke resultater, i tillegg til noen oppgaver som handler om gjennomgått teori. I tillegg praktiske oppgaver som skal leveres underveis.
Hjelpemidler
Alle bøker og notater, ikke internett.
Karakterskala
Emnet bruker karakterskala bestått/ikke bestått. Les mer om karakterskalaen.
Begrunnelse og klage
Adgang til ny eller utsatt eksamen
Studenter som dokumenterer gyldig fravær fra ordinær eksamen, kan ta utsatt eksamen i starten av neste semester.
Det tilbys ikke ny eksamen til studenter som har trukket seg under ordinær eksamen, eller som ikke har bestått.
Tilrettelagt eksamen
Søknadskjema, krav og frist for tilrettelagt eksamen.
Det forutsettes at studenten har tilgang til lab for praktisk arbeid.