FYS5310 – Elektronmikroskopi, -diffraksjon og spektroskopi II

Timeplan, pensum og eksamensdato

Velg semester

Kort om emnet

Emnet gir en teoretisk og praktisk innføring i moderne metoder for å studere materialer med transmisjonselektronmikroskopi (TEM). Det legges vekt på å forstå spredningsprosessene som raske elektroner gjennomgår i materialer, og hvordan disse danner grunnlag for bestemmelse av krystall- og elektronstruktur med teknikker som elektron energitaps-spektroskopi (EELS), scanning-TEM (STEM), elektronholografi, og (kvantitativ) konvergentstrålediffraksjon (CBED).

Emnet passer både for de som skal bruke TEM i sine egne master- og PhD studier, for de som samarbeider i prosjekter hvor TEM er viktig, eller for de som trenger å forstå resultater fra avanserte TEM-studier.

Hva lærer du?

Etter å ha fullført emnet kan du:

  • redegjøre for moderne metoder innen elektronmikroskopi, -diffraksjon og -spektroskopi.
  • diskutere fordeler og ulemper ved de ulike metodene.
  • beskrive samspillet mellom elastisk og uelastisk spredning av elektroner i materialer.
  • evaluere konsekvensene av forskjellige spredningsmekanismer for tolkning av diffraksjon, spektroskopi og avbildning med elektroner.

Opptak til emnet

Studenter må hvert semester søke og få plass på undervisningen og melde seg til eksamen i Studentweb.

Studenter tatt opp til andre masterprogrammer kan, etter søknad, få adgang til emnet hvis dette er klarert med eget program.

Dersom du ikke allerede har studieplass ved UiO, kan du søke om opptak til våre studieprogrammer, eller søke om å bli enkeltemnestudent.

Overlappende emner

Undervisning

Emnet undervises intensivt med 2 timer forelesninger 4 timer kollokvie/lab per uke.

Ettersom undervisningen innebærer laboratorie- og/eller feltarbeid, bør du vurdere å tegne en egen reise- og personskadeforsikring. Les om hvordan du er forsikret som student.

Eksamen

  • Avsluttende muntlig eksamen som teller 100 % ved sensurering.

Som eksamensforsøk i dette emnet teller også forsøk i følgende tilsvarende emner: FYS9320 – Elektronmikroskopi, -diffraksjon og spektroskopi II

Karakterskala

Emnet bruker karakterskala fra A til F, der A er beste karakter og F er stryk. Les mer om karakterskalaen

Adgang til ny eller utsatt eksamen

Dette emnet tilbyr både utsatt og ny eksamen. Les mer:

Tilrettelagt eksamen, kildebruk, begrunnelse og klage

Se mer om eksamen ved UiO

Sist hentet fra Felles Studentsystem (FS) 14. aug. 2022 20:14:43

Fakta om emnet

Studiepoeng
10
Nivå
Master
Undervisning
Vår

Dersom emnet tilbys kreves det minst 4 studenter for å ha ordinær undervisning. Hvis det er færre enn 4 studenter som deltar gis det eksamen, men man kan ikke forvente ordinær undervisning.

Eksamen
Vår
Undervisningsspråk
Norsk (engelsk på forespørsel)