FYS4340 – Transmisjonelektronmikroskopi: avbildning, diffraksjon og spektroskopi I
Beskrivelse av emnet
Kort om emnet
Hva lærer du?
Etter å ha fullført emnet kan du:
- vurdere hvilken prøveprepareringsmetode som er mest hensiktsmessige for en gitt prøve/materialproblemstilling.
- beskrive S/TEMers oppbygning og virkemåte.
- ta i bruk standard programvare for TEM dataanalyse/behandling.
- gi et muntlig sammendrag av eksperimenter og resultater fra en S/TEM-basert vitenskapelig artikkel.
- indisere elektrondiffraksjonsmønstre.
- beskrive opphav og bruk av Kikuchi-mønstre.
- beskrive fremgangsmåter og valg av eksperimentelle betingelser for avbildning av struktur og gitterfeil.
- diskutere prinsippene bak EDS og EELS og deres styrker og svakheter for bestemmelse av prøvekjemi.
- diskutere effekten av dynamisk spredning på diffraksjon, spektroskopi og avbildning.
Opptak til emnet
Studenter tatt opp til andre masterprogrammer kan, etter søknad, få adgang til emnet hvis dette er klarert med eget program.
Dersom du ikke allerede har studieplass ved UiO, kan du søke om opptak til våre studieprogrammer, eller søke om å bli enkeltemnestudent.
Anbefalte forkunnskaper
Overlappende emner
- 10 studiepoeng overlapp med FYS9340 – Transmisjonelektronmikroskopi: avbildning, diffraksjon og spektroskopi I.
Undervisning
Emnet går over et helt semester, med inntil 6 timer undervisning per uke:
- 2 timer forelesning
- Inntil 4 timer timer kollokvie/labøvelse
Du får utdelt en egen vitenskapelig artikkel som du skal sette seg inn i og presentere for de andre studentene. Denne presentasjonen må være gjennomført og godkjent før avsluttende eksamen.
Eksamen
- Avsluttende muntlig eksamen som teller 100 % ved sensurering.
Presentasjonen av en relevant, vitenskapelig artikkel må være gjennomført og godkjent før avsluttende eksamen.
Dette emnet har obligatoriske øvelser som må være godkjent før avsluttende eksamen.
Som eksamensforsøk i dette emnet teller også forsøk i følgende tilsvarende emner: FYS9340 – Transmisjonelektronmikroskopi: avbildning, diffraksjon og spektroskopi I
Hjelpemidler til eksamen
Karakterskala
Adgang til ny eller utsatt eksamen
Studenter som dokumenterer gyldig fravær fra ordinær eksamen, kan ta utsatt eksamen i starten av neste semester.
Det tilbys ikke ny eksamen til studenter som har trukket seg under ordinær eksamen, eller som ikke har bestått.
Mer om eksamen ved UiO
- Kildebruk og referanser
- Hvordan bruke KI som student
- Tilrettelegging på eksamen
- Trekk fra eksamen
- Syk på eksamen / utsatt eksamen
- Begrunnelse og klage
- Ta eksamen på nytt
- Fusk/forsøk på fusk
Andre veiledninger og ressurser finner du på fellessiden om eksamen ved UiO.