FYS5310 – Elektronmikroskopi, -diffraksjon og spektroskopi II
Beskrivelse av emnet
Timeplan, pensum og eksamensdato
Kort om emnet
Emnet gir en teoretisk og praktisk innføring i moderne metoder for å studere materialer med transmisjonselektronmikroskopi (TEM). Det legges vekt på å forstå spredningsprosessene som raske elektroner gjennomgår i materialer, og hvordan disse danner grunnlag for bestemmelse av krystall- og elektronstruktur med teknikker som elektron energitaps-spektroskopi (EELS), scanning-TEM (STEM), elektronholografi, og (kvantitativ) konvergentstrålediffraksjon (CBED).
Emnet passer både for de som skal bruke TEM i sine egne master- og PhD studier, for de som samarbeider i prosjekter hvor TEM er viktig, eller for de som trenger å forstå resultater fra avanserte TEM-studier.
Hva lærer du?
Etter å ha fullført emnet kan du:
- redegjøre for moderne metoder innen elektronmikroskopi, -diffraksjon og -spektroskopi.
- diskutere fordeler og ulemper ved de ulike metodene.
- beskrive samspillet mellom elastisk og uelastisk spredning av elektroner i materialer.
- evaluere konsekvensene av forskjellige spredningsmekanismer for tolkning av diffraksjon, spektroskopi og avbildning med elektroner.
Opptak til emnet
Studenter må hvert semester søke og få plass på undervisningen og melde seg til eksamen i Studentweb.
Studenter tatt opp til andre masterprogrammer kan, etter søknad, få adgang til emnet hvis dette er klarert med eget program.
Dersom du ikke allerede har studieplass ved UiO, kan du søke om opptak til våre studieprogrammer, eller søke om å bli enkeltemnestudent.
Anbefalte forkunnskaper
Overlappende emner
- 10 studiepoeng overlapp med FYS9320 – Elektronmikroskopi, -diffraksjon og spektroskopi II.
Undervisning
Emnet undervises intensivt med 2 timer forelesninger 4 timer kollokvie/lab per uke.
Ettersom undervisningen innebærer laboratorie- og/eller feltarbeid, bør du vurdere å tegne en egen reise- og personskadeforsikring. Les om hvordan du er forsikret som student.
Eksamen
- Avsluttende muntlig eksamen som teller 100 % ved sensurering.
Som eksamensforsøk i dette emnet teller også forsøk i følgende tilsvarende emner: FYS9320 – Elektronmikroskopi, -diffraksjon og spektroskopi II
Karakterskala
Emnet bruker karakterskala fra A til F, der A er beste karakter og F er stryk. Les mer om karakterskalaen
Adgang til ny eller utsatt eksamen
Det arrangeres utsatt eksamen i starten av neste semester for studenter som dokumenterer gyldig fravær fra ordinær eksamen.
Det arrangeres ny eksamen for studenter som ikke består ordinær eksamen.
Studenter som trekker seg under eksamen blir ikke tilbudt ny eksamen.
Mer om eksamen ved UiO
- Kildebruk og referanser
- Tilrettelegging på eksamen
- Trekk fra eksamen
- Syk på eksamen / utsatt eksamen
- Begrunnelse og klage
- Ta eksamen på nytt
- Fusk/forsøk på fusk
Andre veiledninger og ressurser finner du på fellessiden om eksamen ved UiO.