TEK9050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling

Kort om emnet

Emnet handler om virkemåte og teknologi for kameraer, bildesensorer og lysdetektorer i hele det optiske bølgelengdeområdet fra synlig lys til infrarød varmestråling. Emnet gir innsikt i signalveien fra lyskilder, gjennom atmosfære og optikk, til bildesensor eller detektor, og videre til analoge elektriske signaler og digitale bildedata. Et sentralt tema er hvordan slike systemer kan karakteriseres med tanke på egenskaper som oppløsning, følsomhet, støy og hastighet. Mye av stoffet illustreres med praktiske demonstrasjoner.

Hva lærer du?

Etter å ha gjennomført emnet vil du ha

• god innsikt i virkemåten til kameraer og bildesensorer
• god forståelse av fysikken bak digitale bildedata
• god kjennskap til oppbygning og virkemåte for ulike typer detektorer som omsetter lys til elektriske signaler
• god forståelse av signalveien fra lyskilde til elektrisk signal
• god kjennskap til hvordan man beskriver egenskaper og ytelse hos kameraer og detektorer
• en dypere innsikt i en del av pensum relatert til ph.d.-oppgaven din

Opptak til emnet

Ph.d.-kandidater ved UiO søker plass på undervisningen og melder seg til eksamen i Studentweb.

Hvis emnet har begrenset kapasitet, vil ph.d.-kandidater som har emnet i sin utdanningsplan ved UiO, bli prioritert. Noen nasjonale forskerskoler kan ha egne regler for rangering av søkere til emner med begrenset kapasitet.

Ph.d.-kandidater som har opptak ved andre utdanningsinstitusjoner, må innen angitt frist søke om hospitantplass.

Anbefalte forkunnskaper

Det er nyttig å ha kjennskap til grunnleggende elektronikk, signalteori og fysikk, inklusiv grunnleggende halvlederfysikk tilsvarende FYS3410 – Kondenserte fasers fysikk (videreført), men det blir gitt korte introduksjoner til stoff som hentes fra andre fagfelt.

Overlappende emner

• 10 studiepoeng overlapp med TEK5050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling.
• 10 studiepoeng overlapp med UNIK4330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling (videreført).
• 10 studiepoeng overlapp med UNIK9330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling (videreført).
• 9 studiepoeng overlapp med UNIKF351.

Undervisning

3 timer forelesning og regneøvelser per uke gjennom hele semesteret.

Emnet har obligatoriske oppgaver som må være godkjent for å kunne gå opp til eksamen.

Ph.d.-kandidater må få godkjent en ekstra oppgave, som demonstrerer god forståelse av en nærmere bestemt del av pensum.

Emnet undervises på Institutt for teknologisystemer på Kjeller forskningspark. Se rutetabellen for instituttets egen studentbuss fra Blindern.

Eksamen

• Avsluttende muntlig eksamen teller 100% ved sensurering.
• Ved stort antall kandidater kan det bli holdt skriftlig eksamen.
• Det er obligatoriske oppgaver som må være godkjent for at du skal kunne gå opp til eksamen.
• Ph.d.-kandidater skal, i forhold til masterstudenter på den klonede versjonen av emnet (TEK5050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling), levere en oppgave som demonstrerer god forståelse av en nærmere bestemt del av pensum.  Oppgaven må være godkjent før avsluttende eksamen.

Som eksamensforsøk i dette emnet teller også forsøk i følgende tilsvarende emner:

• TEK5050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling
• UNIK4330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling (videreført)
• UNIK9330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling (videreført)

Hjelpemidler til eksamen

Ingen hjelpemidler er tillatt.

Eksamensspråk

Dersom emnet undervises på engelsk, vil det bare tilbys eksamensoppgavetekst på engelsk. Du kan besvare eksamen på norsk, svensk, dansk eller engelsk.

Karakterskala

Emnet bruker karakterskala bestått / ikke bestått. Les mer om karakterskalaen.

Adgang til ny eller utsatt eksamen

Studenter som dokumenterer gyldig fravær fra ordinær eksamen, kan ta utsatt eksamen i starten av neste semester.

Det tilbys ikke ny eksamen til studenter som har trukket seg under ordinær eksamen, eller som ikke har bestått.

Mer om eksamen ved UiO

• Kildebruk og referanser
• Tilrettelegging på eksamen
• Trekk fra eksamen
• Syk på eksamen / utsatt eksamen
• Begrunnelse og klage
• Ta eksamen på nytt
• Fusk/forsøk på fusk

Andre veiledninger og ressurser finner du på fellessiden om eksamen ved UiO.