FYS9340 – Transmisjonelektronmikroskopi: avbildning, diffraksjon og spektroskopi I
Beskrivelse av emnet
Kort om emnet
Hva lærer du?
Etter å ha fullført emnet kan du:
- vurdere hvilken prøveprepareringsmetode som er mest hensiktsmessige for en gitt prøve/materialproblemstilling.
- beskrive S/TEMers oppbygning og virkemåte.
- ta i bruk standard programvare for TEM dataanalyse/behandling.
- gi et muntlig sammendrag av eksperimenter og resultater fra en S/TEM-basert vitenskapelig artikkel.
- indisere elektrondiffraksjonsmønstre.
- beskrive opphav og bruk av Kikuchi-mønstre.
- beskrive fremgangsmåter og valg av eksperimentelle betingelser for avbildning av struktur og gitterfeil.
- diskutere prinsippene bak EDS og EELS og deres styrker og svakheter for bestemmelse av prøvekjemi.
- diskutere effekten av dynamisk spredning på diffraksjon, spektroskopi og avbildning.
Opptak til emnet
Ph.d.-kandidater ved UiO søker plass på undervisningen og melder seg til eksamen i Studentweb.
Hvis emnet har begrenset kapasitet, vil ph.d.-kandidater som har emnet i sin utdanningsplan ved UiO bli prioritert. Noen nasjonale forskerskoler kan ha egne regler for rangering av søkere til emner med begrenset kapasitet.
Ph.d.-kandidater som har opptak ved andre utdanningsinstitusjoner må innen angitt frist søke om hospitantplass.
Anbefalte forkunnskaper
Overlappende emner
- 10 studiepoeng overlapp med FYS4340 – Transmisjonelektronmikroskopi: avbildning, diffraksjon og spektroskopi I.
Undervisning
Emnet går over et helt semester, med inntil 6 timer undervisning per uke:
- 2 timer forelesning
- Inntil 4 timer timer kollokvie/labøvelse
Du får utdelt en egen vitenskapelig artikkel som du skal sette seg inn i og presentere for de andre studentene. Denne presentasjonen må være gjennomført og godkjent før avsluttende eksamen.
Eksamen
- Avsluttende muntlig eksamen som teller 100 % ved sensurering.
Presentasjonen av en relevant, vitenskapelig artikkel må være gjennomført og godkjent før avsluttende eksamen.
Dette emnet har obligatoriske øvelser som må være godkjent før avsluttende eksamen.
Som eksamensforsøk i dette emnet teller også forsøk i følgende tilsvarende emner: FYS4340 – Transmisjonelektronmikroskopi: avbildning, diffraksjon og spektroskopi I
Hjelpemidler til eksamen
Karakterskala
Adgang til ny eller utsatt eksamen
Studenter som dokumenterer gyldig fravær fra ordinær eksamen, kan ta utsatt eksamen i starten av neste semester.
Det tilbys ikke ny eksamen til studenter som har trukket seg under ordinær eksamen, eller som ikke har bestått.
Mer om eksamen ved UiO
- Kildebruk og referanser
- Hvordan bruke KI som student
- Tilrettelegging på eksamen
- Trekk fra eksamen
- Syk på eksamen / utsatt eksamen
- Begrunnelse og klage
- Ta eksamen på nytt
- Fusk/forsøk på fusk
Andre veiledninger og ressurser finner du på fellessiden om eksamen ved UiO.